丹東百特儀器有限公司
使用BeNano 90 Zeta檢測氧化鋁磨料的粒徑和Zeta電位
檢測樣品：氧化鋁磨料
檢測項目：檢測氧化鋁磨料的粒徑和Zeta電位
方案概述：在這篇應用報告中，我們使用丹東百特儀器有限公司新推出的BeNano 90 Zeta納米粒度電位儀檢測了分散在水性環(huán)境中的納米氧化鋁的粒徑和Zeta電位信息。
納米氧化鋁拋光液用途廣泛，適用于光學鏡頭、單芯光纖連接器、微晶玻璃基板、晶體表面、寶石、玻璃制品、金屬制品、半導體材料、塑料、磁帶、打磨帶等方面的精密拋光。拋光液的穩(wěn)定性非常重要，如果拋光液中氧化鋁顆粒產生團聚會嚴重的影響拋光效果，甚至產生大量劃痕。而拋光液的穩(wěn)定性與氧化鋁顆粒的Zeta電位息息相關。
在這篇應用報告中，我們使用丹東百特儀器有限公司最新推出的BeNano 90 Zeta納米粒度電位儀檢測了分散在水性環(huán)境中的納米氧化鋁的粒徑和Zeta電位信息。
原理和設備
采用丹東百特儀器有限公司的BeNano 90 Zeta納米粒度電位儀進行測試。儀器使用波長671 nm，功率50 mW激光器作為光源。動態(tài)光散射光路收集90°散射光，通過相關計算得到原始相關曲線信號，進而推導出顆粒的布朗運動速度，由斯托克斯愛因斯坦方程得到顆粒的粒徑和粒徑分布信息。電泳光散射光路通過設置在12度角的檢測器進行散射光信號采集，采用PALS相位分析光散射技術，得到電泳遷移率和樣品的Zeta電位信息。
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